Les aspects transfrontaliers de la contrefaçon / [5e Rencontres lorraines de la propriété intellectuelle, Université de Lorraine, Metz, 21 mars 2017] ; sous la direction de Sébastien Evrard, Jean-Luc Piotraut et Patrick Tafforeau
Date : 2018
Type : Livre / Book
Langue / Language : français / French
ISBN : 978-2-1400-5606-2
Propriété intellectuelle (droit international)
Faux -- Histoire
Faux -- Lutte contre
Classification Dewey : 346.048
Classification Dewey : 345.026 68
Classification Dewey : 346.023 34
Vièl, Christof (Collaborateur / collaborator)
Relation : Les aspects transfrontaliers de la contrefaçon / [5e Rencontres lorraines de la propriété intellectuelle, Université de Lorraine, Metz, 21 mars 2017] ; sous la direction de Sébastien Evrard, Jean-Luc Piotraut et Patrick Tafforeau / Paris : L'Harmattan