Injection électromagnétique et microscopie en champ proche / Pierre Payet ; sous la direction de Laurent Chusseau

Date :

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Microscopie en champ proche

Spectroscopie de réflectance

Chusseau, Laurent (Directeur de thèse / thesis advisor)

Bajon, Damienne (19..-....) (Président du jury de soutenance / praeses)

Lasri, Tuami (Rapporteur de la thèse / thesis reporter)

Besnier, Philippe (1967-.... ; directeur de recherche) (Rapporteur de la thèse / thesis reporter)

Guillet, Jean-Paul (1984-....) (Membre du jury / opponent)

Raoult, Jérémy (1976-....) (Membre du jury / opponent)

Université de Montpellier (2015-....) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

École Doctorale Information, Structures, Systèmes (Montpellier ; 2015) (Ecole doctorale associée à la thèse / doctoral school)

Institut d'électronique et des systèmes (Montpellier) (Laboratoire associé à la thèse / thesis associated laboratory)

Résumé / Abstract : Les microscopes en champ proche micro-ondes sont des outils émergents pour la caractérisation des matériaux. Dans ce travail, une sonde de champ proche a été conçue, décrite et analysée en termes de performance et de résolution. Cette sonde a été associée à deux microscopes en champ proche micro-ondes. Le premier microscope est basé sur de la réflectométrie en intensité et a permis d'évaluer la qualité et la résolution latérale de la sonde. Cette résolution peut atteindre une dimension sub-longueur d'onde ouvrant la voie pour une caractérisation locale des matériaux. La seconde expérience présente la conception d'un banc de caractérisation des matériaux. Ce système met en œuvre un mélangeur I/Q afin d'extraire l'information en intensité et en phase de l'interaction en champ proche. Enfin, la dernière expérience concerne l'injection électromagnétique en champ proche d'un signal hors-bande sur un module de communication. L'ensemble des résultats montrent que l'expérience d'injection en champ proche a le potentiel pour devenir un outil de métrologie important pour l'étude de la susceptibilité.

Résumé / Abstract : Microwave near-field microscopes are emerging tools for material characterization. In this work, a near-field probe was designed, described and analyzed in terms of performance and resolution. This probe has been associated with two microscopes in the near microwave field. The first microscope is based on intensity reflectometry and evaluated the quality and lateral resolution of the probe. This resolution can reach a subwavelength dimension, opening the way to local characterization of materials. The second experiment presents the design of a materials characterization bench. This system uses an I/Q mixer to extract information in intensity and phase of near-field interaction. Finally, the last experiment concerns electromagnetic injection in the near field of an out-of-band signal on a communication module. The overall results show that the near-field injection experiment has the potential to become an important metrology tool for susceptibility studies.