Vous n'auriez pas dû voir cette page, destinée aux moteurs de recherche. Allez plutôt voir du côté de www.sudoc.abes.fr/DB=2.1/SRCH?IKT=12&TRM=189003936.

Étude des mécanismes de dégradation de la mobilité sur les architectures FDSOI pour les noeuds technologiques avancés (<20nm) / Sébastien Guarnay ; sous la direction de Arnaud Bournel

Date :

Editeur / Publisher : , 2015

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Transistors MOSFET -- Thèses et écrits académiques

Monte-Carlo, Méthode de -- Thèses et écrits académiques

Microélectronique -- Thèses et écrits académiques

Transport des électrons, Théorie du -- Thèses et écrits académiques

Bournel, Arnaud (Directeur de thèse / thesis advisor)

Souifi, Abdelkader (Président du jury de soutenance / praeses)

Bescond, Marc (1978-....) (Rapporteur de la thèse / thesis reporter)

Mouis, Mireille (1958-....) (Rapporteur de la thèse / thesis reporter)

Triozon, François (1972-....) (Membre du jury / opponent)

Université Paris-Sud (Organisme de soutenance / degree-grantor)

Ecole doctorale Sciences et Technologies de l'Information, des Télécommunications et des Systèmes (Orsay, Essonne) (Ecole doctorale associée à la thèse / doctoral school)

Laboratoire d'électronique, de technologie et d'instrumentation. Département d'électronique et d'instrumentation nucléaire (France) (Laboratoire associé à la thèse / thesis associated laboratory)