Statistical methodologies for modelling the impact of process variability in ultra-deep-submicron SRAMs / Kaya Can Akyel ; sous la direction de Gérard Ghibaudo

Date :

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : anglais / English

Catalogue Worldcat

Classification Dewey : 620

Ghibaudo, Gérard (Directeur de thèse / thesis advisor)

O'Connor, Ian (professeur de systèmes nanoélectroniques) (Président du jury de soutenance / praeses)

Université de Grenoble (2009-2014) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

École doctorale électronique, électrotechnique, automatique, traitement du signal (Grenoble) (Ecole doctorale associée à la thèse / doctoral school)

Institut de microélectronique, électromagnétisme et photonique - Laboratoire d'hyperfréquences et de caractérisation (Grenoble) (Laboratoire associé à la thèse / thesis associated laboratory)