Méthodologie d'analyse de défaillance pour l'évaluation de la fiabilité de diodes électroluminescentes GaN / Raphaël Baillot ; sous la direction de Yves Ousten et de Yannick Deshayes

Date :

Editeur / Publisher : , 2011

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Diodes électroluminescentes -- Fiabilité -- Thèses et écrits académiques

Ousten, Yves (1956-....) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Deshayes, Yannick (1972-....) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Deval, Yann (1963-....) (Président du jury de soutenance / praeses)

Salvestrini, Jean-Paul (Rapporteur de la thèse / thesis reporter)

Thérias, Sandrine (Rapporteur de la thèse / thesis reporter)

Bechou, Laurent (1966-....) (Membre du jury / opponent)

Grandjean, Nicolas (1967-....) (Membre du jury / opponent)

Université Bordeaux-I (1971-2013) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

École doctorale des sciences physiques et de l’ingénieur (Talence, Gironde) (Ecole doctorale associée à la thèse / doctoral school)

Laboratoire de l'intégration du matériau au système (Talence, Gironde) (Laboratoire associé à la thèse / thesis associated laboratory)