Caracterisation electrique des defauts induits lors de l'integration de la base d'un transistor bipolaire a heterojonction SiGe en technologie BICMOS / Oscar de Barros

Date :

Editeur / Publisher : Grenoble : Atelier national de reproduction des thèses , 1997

Format : 1 microfiche

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Collection : Lille-thèses / Atelier de reproduction des thèses / Lille : Atelier national de reproduction des thèses , 1983-2017

Relation : Caractérisation électrique des défauts induits lors de l'intégration de la base d'un transistor bipolaire a hétérojonction SIGe en technologie BICMOS = = Integration of SiGe heterojunction bipolar transistors in a BICMOS technology: electrical characterization of process induced defects : / Oscar de Barros ; sous la direction de Georges Bremond / [S.l.] : [S.n.] , 1997