Caracterisation electrique des defauts induits lors de l'integration de la base d'un transistor bipolaire a heterojonction SiGe en technologie BICMOS / Oscar de Barros
Date : 1997
Editeur / Publisher : Grenoble : Atelier national de reproduction des thèses , 1997
Format : 1 microfiche
Type : Livre / Book
Type : Thèse / ThesisLangue / Language : français / French
Collection : Lille-thèses / Atelier de reproduction des thèses / Lille : Atelier national de reproduction des thèses , 1983-2017
Relation : Caractérisation électrique des défauts induits lors de l'intégration de la base d'un transistor bipolaire a hétérojonction SIGe en technologie BICMOS = = Integration of SiGe heterojunction bipolar transistors in a BICMOS technology: electrical characterization of process induced defects : / Oscar de Barros ; sous la direction de Georges Bremond / [S.l.] : [S.n.] , 1997