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Etude par simulation composant 3D des effets singuliers SEU et SET induits par ions lourds sur le noeud technologique CMOS bulk 180 nm [Texte imprimé] / David Truyen ; sous la direction de F. Saigne

Date :

Editeur / Publisher : Montpellier : Université de Montpellier 2 Sciences et Techniques du Languedoc , 2007

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

MOS complémentaires -- Thèses et écrits académiques

Ions lourds -- Thèses et écrits académiques

Saigné, Frédéric (Directeur de thèse / thesis advisor)

Université des sciences et techniques de Montpellier 2 (1970-2014) (Organisme de soutenance / degree-grantor)