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Analyse expérimentale et modélisation électrique de n-HFET et p-HFET sur SiGe [Texte imprimé] / Mauro Alberto Encisco Aguilar ; sous la dir. de Frédéric Aniel

Date :

Editeur / Publisher : [S.l.] : [s.n.] , 2003

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : anglais / English

Langue / Language : français / French

Catalogue Worldcat

Aniel, Frédéric (Directeur de thèse / thesis advisor)

Université Paris-Sud (Organisme de soutenance / degree-grantor)