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Caractérisation de structures MIS par spectroscopie d'admittance : évaluation du comportement dynamique des défauts à l'interface isolant-semiconducteur / Emmanuel Duval ; sous la dir. de Kaouther Ketata

Date :

Editeur / Publisher : [S.l.] : [s.n.] , 2001

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Catalogue Worldcat

MOS (électronique) -- Thèses et écrits académiques

MIS (électronique) -- Thèses et écrits académiques

Semiconducteurs -- Jonctions -- Thèses et écrits académiques

Silicium -- Thèses et écrits académiques

Oxydes -- Thèses et écrits académiques

Densités des niveaux d'énergie -- Thèses et écrits académiques

Résistance électrique -- Thèses et écrits académiques

Kétata, Kaouther (Directeur de thèse / thesis advisor)

Université de Rouen Normandie (Organisme de soutenance / degree-grantor)