Caractérisation par mesures électriques et microanalyse nucléaire de la dégradation de semi-conducteurs amorphes en couches minces liées à la diffusion des électrodes / Serge Marsaud ; sous la direction de J. Tousset

Date :

Editeur / Publisher : [S.l.] : [s.n.] , 1976

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Semiconducteurs amorphes

Électrodes

Tousset, Jean (19..-.... ; physicien nucléaire) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Université Claude Bernard (Lyon ; 1971-....) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

Résumé / Abstract : ETUDE DE LA CONTRIBUTION DES ELECTRODES A LA DEGRADATION DES DISPOSITIFS FAISANT APPEL AUX VERRES A BASE DE TELLURE. NOUS AVONS ETUDIE LA DIFFUSION THERMIQUE D'ELECTRODES D'OR DANS DIVERS MATERIAUX EN COUCHES MINCES (AS-TE-AS::(50)TE::(50), AS::(38) GE::(14) TE::(43) S::(5)). EN RAISON DES FAIBLES EPAISSEURS OBSERVEES (99 MILLIERS D'A A 1MU ), CE DOMAINE EST TYPIQUEMENT CELUI DE LA RETRODIFFUSION ELASTIQUE DE PARTICULES CHARGEES, QUI ASSURE UNE RESOLUTION EN PROFONDEUR DE L'ORDRE DE 200 A 300 A. CETTE TECHNIQUE NON DESTRUCTIVE PERMET LA MESURE DES EPAISSEURS ET LE CONTROLE DE LA COMPOSITION DE NOS FILMS. POUR LES MATERIAUX AS::(50) TE::(50) ET AS::(38) TE::(43) GE::(14) S::(5), NOUS AVONS SUIVI PARALLELEMENT LA DEGRADATION DES PROPRIETES ELECTRIQUES DES DISPOSITIFS CORRESPONDANTS.