Sur la théorie du test des circuits digitaux : mesures de la confiance / Mireille Jacomino née Dancet ; sous la direction de René David

Date :

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Catalogue Worldcat

David, René (1939-.... ; physicien) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Courtois, Bernard (1948-.... ; informaticien) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Institut national polytechnique (Grenoble) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

Institut d'informatique et mathématiques appliquées (Grenoble) (Autre partenaire associé à la thèse / thesis associated third party)

Relation : Sur la théorie du test des circuits digitaux [Ressource électronique] : mesures de la confiance / Mireille Jacomino née Dancet ; sous la direction de [René David] / Grenoble : Université Joseph Fourier , 2008

Relation : Sur la théorie du test des circuits digitaux : mesures de la confiance / Mireille Jacomino née Dancet ; sous la direction de René David / Grenoble : Atelier national de reproduction des thèses , 1989

Résumé / Abstract : Dans ce mémoire 6 mesures sont formellement définies. Elles sont applicables à toute méthode de test. Des relations entre ces mesures sont démontrées et elles sont comparées par rapport à deux critères . La qualité de la mesure et sa difficulté d'estimation. Il apparait que l'une de ces mesures est la plus significative et qu'une autre mesure est la plus facile à calculer. Une nouvelle approche, intermédiaire entre ces deux mesures est alors introduite. Elle permet d'estimer de façon très précise la mesure la plus significative à l'aide de la plus facile a calculer que l'on applique a des sous-ensembles de fautes. Le cas ou la sortie du circuit sous test est compactée (analyse de signature) et la performance propre de l'observation du circuit sont également traités. La mesure de la confiance dans le test du microprocesseur à test (MTI) réalisé au Cnet/Cns en technologie CMOS, illustre les différents résultats obtenus. Quelques aspects nouveaux concernant le test des fautes de transistor colle ouvert dans un circuit CMOS sont également présentés