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La Diffraction des rayons X et la mesure des contraintes résiduelles [Texte imprimé] / par MM. G. Maeder,... J.L. Lebrun,... L. Corcaud,...

Date :

Editeur / Publisher : Paris : ENSAM , 1977

Type : Livre / Book

Langue / Language : français / French

Catalogue Worldcat

Contraintes résiduelles

Radiocristallographie

Classification Dewey : 350

Collection : Publications scientifiques et techniques / Ecole nationale supérieure d'arts et métiers / Paris : École nationale supérieure d'arts et métiers , 1971-