Développement, mise en place et optimisation de méthodes de contrôle de fiabilité des technologies bipolaire/CMOS/DMOS au niveau des plaquettes en cours de procédé (WLR) / Xavier Gagnard ; [sous la dir. de] Olivier Bonnaud
Date : 2001
Editeur / Publisher : [S.l.] : [s.n.] , 2001
Type : Livre / Book
Type : Thèse / ThesisLangue / Language : français / French
Circuits intégrés bipolaires -- Fiabilité