A surface and interface study of CdZnTe and the behaviors of Si surface / Xuxu Bai ; sous la direction de François Rochet et Wanqi Jie

Date :

Editeur / Publisher : [S.l.] : [s.n.] , 2011

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : anglais / English

Contacts métal-semiconducteur

Photoémission

Spectroscopie ZEKE

Rochet, François (19..-.... ; professeur) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Jie, Wanqi (19..-....) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Université Pierre et Marie Curie (Paris ; 1971-2017) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

Résumé / Abstract : La spectroscopie de photoémission utilisant le rayonnement synchrotron (Synchrotron Radiation Photoemission Spectroscopy, SRPES) a été utilisée pour étudier les caracéristiques de la surface de CdZnTe, telles que, la structure électronique et la dispersion de bandes, des surfaces CdZnTe(111)A, (111)B et (110). Les niveaux électroniques, la fonction de travail de la surface ont été étudiés pour comprendre l'adsorption de O2 et H2O sur les différentes surfaces de CdZnTe. En outre, de l'or et de l'aluminium ont été déposés par épitaxie par jets moléculaires (MBE) sur deux différents plans polaires de CdZnTe. Le comportement de l'interface de CdZnTe et les contacts métalliques, y compris la réaction chimique d'interface et la hauteur de barrière de Schottky (SBH) ont été étudiés en détail. Enfin, l'adsorption du chlorure d'acétyle (CH3–CClO) et de l'ammoniac (NH3) sur la surface de Si(001) ont été étudiés