Méthodologie d'essais accélérés de torsion et de détection de défaillance appliquée aux assemblages électroniques à billes / présentée par Wilson Carlos Maia Filho ; [sous la direction de] Yves Danto et Hélène Fremont

Date :

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Microélectronique

Essais accélérés (technologie)

Durée de vie (ingénierie)

Danto, Yves (1942-....) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Fremont, Hélène (1963-.... ; auteure d'une thèse de sciences) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Université Bordeaux-I (1971-2013) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

Relation : Méthodologie d'essais accélérés de torsion et de détection de défaillance appliquée aux assemblages électroniques à billes / présentée par Wilson Carlos Maia Filho ; [sous la direction de] Yves Danto et Hélène Fremont / Lille : Atelier national de reproduction des thèses , 2008

Résumé / Abstract : L'analyse de la fiabilité des assemblages électroniques, et la prévision de la durée de vie associée, sont fondamentales, sutout pour des applications en environnement sévère ou avec un profil de mission de longue durée. Ce travail présente le développement d'une méthodologie de test par torsion pour l'évaluation de la fiabilité des assemblages microélectroniques à billes. Le but est de générer des défaillances similaires à celles produites en cyclage thermique. Le critère de défaillance a été caractérisé expérimentalement et analytiquement. Un banc de torsion de nouvelle génération et un véhicule de test spécifique permettant la caractérisation de la distribution des déformations sur la carte et la reproductibilité des essais ont été développés. Un plan d'expérience et deux applications industrielles ont permis de valider la démarche et de définir les limites d'applications du test en torsion. Enfin, une loi d'endommagement a été établie, à partir de l'utilisation conjointe des résultats du plan d'expériences et de simulation par éléments finis.