Des matériaux lamellaires aux monocouches organiques auto-assemblées : élaboration de matériaux de basse dimensionnalité, et contribution des microscopies à champ proche à leur étude / Hubert Klein ; sous la direction de Yves Mathey

Date : 1999

Editeur / Publisher : [S.l.] : [s.n.] , 1999

Type : Livre / Book

Langue / Language : français / French

Microscopie à force atomique

Mathey, Yves (19..-) (Directeur de thèse / thesis advisor)

Université d'Aix-Marseille II. Faculté des sciences (1969-2011) (Autre partenaire associé à la thèse / thesis associated third party)

Université Aix-Marseille II (1969-2011) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

Relation : Des matériaux lamellaires aux monocouches organiques auto-assemblées : élaboration de matériaux de basse dimensionnalité, et contribution des microscopies à champ proche à leur étude / Hubert Klein ; sous la direction de Yves Mathey / Grenoble : Atelier national de reproduction des thèses , 1999

Résumé / Abstract : AU DELA DE LA SIMPLE IMAGERIE, LES MICROSCOPIES A CHAMP PROCHE SONT RECONNUES COMME UNE FAMILLE D'OUTILS PRIMORDIALE POUR LA COMPREHENSION DE NOMBREUX PHENOMENES PHYSIQUES, COMME LE FROTTEMENT, A L'ECHELLE LOCALE. NOUS ELABORONS DES COUCHES MINCES DE MATERIAUX LAMELLAIRES, ET AVONS UTILISE LE MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE SUR CE TYPE DE MATERIAUX AFIN D'EVALUER LES INFORMATIONS QU'IL ETAIT SUCCEPTIBLE DE NOUS APPORTER. NOS PREMIERS TRAVAUX SUR DES MONOCRISTAUX DE MATERIAUX LAMELLAIRES (MOS 2, NBSE 2 ET MOO 3) NOUS ONT PERMIS DE RELIER DES MESURES DE FROTTEMENT FAITES A L'AFM A LEURS PROPRIETES PHYSICOCHIMIQUES. LES INVESTIGATIONS ONT ETE ETENDUES A MOO 3 SOUS FORME DE COUCHES MINCES POLYCRISTALLINES. DANS LE CADRE D'UN NOUVEAU THEME DE RECHERCHE DU LABORATOIRE, NOUS NOUS SOMMES ENSUITE INTERESSES AUX MONOCOUCHES ORGANIQUES AUTO-ASSEMBLEES. NOUS AVONS AINSI ELABORE DES MONOCOUCHES DE DECANETHIOLS SUR AU(111), ET LES AVONS CARACTERISEES PAR STM ET AFM JUSQU'A L'ECHELLE MOLECULAIRE. L'AFM NOUS A EGALEMENT SERVI A MENER DES TRAVAUX PRELIMINAIRES DE MESURE D'ADHERENCE POINTE / SURFACE SUR OTS GREFFES SUR SILICE. L'OBJECTIF A TERME ETANT DE POUVOIR REALISER DES IMAGES DE CONTRASTE CHIMIQUE SUR UNE SURFACE RECOUVERTE PAR DIFFERENTS GROUPEMENTS FONCTIONNELS.