Date : 1994
Editeur / Publisher : [S.l.] : [s.n.] , 1994
Format : 172 P.
Type : Livre / Book
Type : Thèse / ThesisLangue / Language : français / French
Résumé / Abstract : LA DETERMINATION DES DEFORMATIONS ET DES CONTRAINTES DANS LES MATERIAUX MONOCRISTALLINS PAR LA DIFFRACTION DES RAYONS X CONSISTE A ORIENTER UN CRISTAL ET A DETERMINER LE TENSEUR METRIQUE, LE TENSEUR DES DEFORMATIONS ET LE TENSEUR DES CONTRAINTES. TROIS METHODES ONT ETE PROPOSEES OU DEVELOPPEES DANS CETTE THESE POUR ARRIVER A CE BUT. ELLES SONT BASEES RESPECTIVEMENT SUR LES RELATIONS LINEAIRES ENTRE LES SIX COMPOSANTES DU TENSEUR METRIQUE ET LES MODULES VECTORIELS ET LES COSINUS VECTORIELS AINSI QUE LEUR COMBINAISON. LA DERNIERE METHODE A FOURNI DE MEILLEURS RESULTATS DU FAIT DE LA QUALITE DE L'ESPACE DE CONFIGURATION, ET POUR SON EFFICACITE D'EXPLOITATION DES DONNEES EXPERIMENTALES. LES TROIS METHODES SONT APPLIQUEES A PARTIR DE DONNEES SIMULEES ET DE DONNEES EXPERIMENTALES. POUR REPERER LES CENTRE DES PICS DE DIFFRACTION, UNE PROCEDURE EFFICACE BASEE SUR DES BALAYAGES SUIVANTS 3 MOUVEMENTS ANGULAIRES (, , ) COUPLES AVEC LE MOUVEMENT 2 A ETE APPLIQUEE POUR DES RAISONS D'EFFICACITE