Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Dale E. Newbury ... [et al.]

Date :

Editeur / Publisher : New York : Plenum Press , cop. 1986

Type : Livre / Book

Langue / Language : anglais / English

ISBN : 0-306-42140-2

Microanalyse par émission X

Microscopes électroniques à balayage

Classification Dewey : 502.825

Classification Dewey : 502.8