Etude du vieillissement accéléré de diodes électroluminescentes rouges au GaAlAs en régimes statique et impulsionnel périodique / par Abdelaziz Zouggar ; sous la dir. de F. Lignou

Date :

Editeur / Publisher : [S.l.] , 1996

Type : Livre / Book

Type : Thèse / Thesis

Langue / Language : français / French

Essais accélérés (technologie)

Dislocations dans les semiconducteurs

Régime transitoire (électricité)

Effets de la température

Université de Poitiers (1896-...) (Organisme de soutenance / degree-grantor)

Relation : Etude du vieillissement accéléré de diodes électroluminescentes rouges au GaAlAs en régimes statique et impulsionnel périodique / par Abdelaziz Zouggar ; sous la direction de F. Lignou / Grenoble : Atelier national de reproduction des thèses , 1996

Résumé / Abstract : CE TRAVAIL PORTE SUR L'ETUDE DE LA DEGRADATION AU COURS DU TEMPS, DES DIODES ELECTROLUMINESCENTES A SIMPLE HETEROJONCTION GA#0#,#6AL#0#,#4AS(P)/GA#0#,#2AL#0#,#8AS(N), UTILISEES DANS DES CONDITIONS D'EXCITATION SEVERES. POUR CE TYPE D'EXCITATION, IL APPARAIT AU COURS DE VIEILLISSEMENT UNE NETTE DIMINUTION DE LA PUISSANCE LUMINEUSE EMISE, MEME POUR DES TEMPS RELATIVEMENT COURTS, TEMOIGNANT AINSI D'UNE MODIFICATION NOTABLE DE LA STRUCTURE DU COMPOSANT. LA COMPARAISON DES RESULTATS THEORIQUES OBTENUS A L'AIDE D'UN MODELE OPTOELECTRONIQUE ET DES MESURES DES CARACTERISTIQUES LUMINANCE-COURANT-TENSION, EST EFFECTUEE POUR UN VIEILLISSEMENT EN REGIME STATIQUE(100MA) ET EN REGIMES IMPULSIONNELS PERIODIQUES A RAPPORTS CYCLIQUES VARIABLES JUSQU'A DES COURANTS DE CRETE DE 1,2A. CETTE COMPARAISON A PERMIS DE LOCALISER LES ZONES AFFECTEES PAR LA DEGRADATION POUR DIFFERENTES DUREES DE VIEILLISSEMENT. UNE METHODE D'ANALYSE EGALEMENT NON DESTRUCTIVE, BASEE SUR LA MESURE DE LA CAPACITE DU COMPOSANT EN FONCTION DE LA TENSION APPLIQUEE A ETE PROPOSEE. IL EST EN PARTICULIER MONTRE UNE DIMINUTION DE CETTE CAPACITE, PRINCIPALEMENT MARQUEE PEU AVANT LA DESTRUCTION DEFINITIVE DE LA DIODE. NOUS RENDONS RESPONSABLE DE CETTE DECROISSANCE L'EVOLUTION DU PROFIL DE DOPAGE EQUIVALENT VERS UNE STRUCTURE GRADUELLE. UNE AUTRE APPROCHE, BASEE SUR L'ANALYSE DES TRANSITOIRES DE TENSION, SOUS EXCITATION IMPULSIONNELLE PERIODIQUE, POUR DIFFERENTS DEGRES DE VIEILLISSEMENT, NOUS A PERMIS D'EVALUER LE PROCESSUS DE DEGRADATION, DE MANIERE PHENOMENOLOGIQUE, AU TRAVERS UN MODELE ELECTRIQUE EQUIVALENT. LES CONCLUSIONS SONT EN ACCORD AVEC RESULTATS OBTENUS LORS DE L'ETUDE DE L'EVOLUTION DE L'EFFET CAPACITIF ET DES CARACTERISTIQUES OPTOELECTRONIQUES DE CES COMPOSANTS. ENFIN UNE ETUDE DE L'INCIDENCE DES CONDITIONS D'EXCITATION SUR LE PROCESSUS DE DEGRADATION A ETE EFFECTUEE. CELA A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE UNE FORTE SENSIBILITE AU COURANT DE CRETE ET A MOINDRE TITRE AU COURANT MOYEN D'EXCITATION. LES RESULTATS DE CETTE ETUDE NOUS ONT PERMIS DE FAIRE DES PROPOSITIONS CONCERNANT LES CONDITIONS OPTIMALES DE FONCTIONNEMENT